Espectrómetro de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente de lectura directa de espectro completo, modelo ICP-7760HP

Todos los elementos de la muestra se recogen simultáneamente en todo el rango espectral; se adopta la tecnología de dispersión bidimensional con rejilla escalonada (echelle) para reducir los errores causados por interferencias espectrales, satisfaciendo la necesidad de analizar diversas muestras complejas; se emplea un CCD científico de un millón de píxeles con protección contra desbordamiento, lo que mejora la precisión de los datos cualitativos y cuantitativos, y este diseño también aumenta eficazmente la relación señal-ruido en análisis de trazas, reduciendo considerablemente los límites de detección.

    Permite el análisis cualitativo de muestras desconocidas sin necesidad de configurar soluciones estándar ni establecer métodos;

    Permite la detección de todos los elementos en muestras desconocidas incluso cuando la cantidad de muestra es limitada;

    Reduce el tiempo de detección, disminuye el consumo de argón y baja los costos operativos;

    Permite recopilar primero las señales espectrales de la muestra y añadir elementos de análisis posteriormente;

    La señal de fondo y la señal espectral del elemento a analizar se recogen simultáneamente, mejorando la precisión del análisis;

    La posición de la fuente de luz y la altura de observación se optimizan rápidamente mediante control por motor, obteniendo así señales espectrales intensas;

    Los parámetros del instrumento y los parámetros analíticos se optimizan rápidamente mediante la monitorización en tiempo real de las señales espectrales.