El AA-7050D adopta un sistema de doble haz con trayectoria óptica de reflexión total, que puede realizar automáticamente el cero, escaneo, ajuste de posición de lámpara, ajuste de posición de espejo y equilibrio de energía según las condiciones como la longitud de onda del elemento seleccionado en el método. Se puede aplicar ampliamente en metalurgia, petroquímica, geología, medicina, protección ambiental, investigación, agricultura (suelos y fertilizantes), control de enfermedades, alimentos, ciencia de materiales, inspección de mercancías, etc. Actualmente puede analizar más de 70 elementos, con aplicaciones muy importantes en el análisis de elementos traza y ultratraza.
Espectrofotómetro de absorción atómica modelo AA-7050D
1. Sistema de doble haz con trayectoria óptica de reflexión total, compensación en tiempo real de la deriva de la lámpara de elemento, función de compensación automática de línea base, garantiza la sensibilidad de medición, y tiene función de emisión de llama
2. Ancho de banda espectral: cambio automático de rendija en seis pasos: 0,1, 0,2, 0,4, 0,7, 1,0 y 2,0 nm
3. Exactitud de longitud de onda: ±0,1 nm, repetibilidad de longitud de onda: ≤0,05 nm
4. Resolución: mejor que 0,1 nm
5. Plataforma giratoria de torreta de 8 lámparas, completamente controlada automáticamente por computadora, posicionamiento rápido, selección automática de lámpara de elemento.
6. Modo de corrección de fondo: lámpara de deuterio, corrección de fondo por autoabsorción;
7. Fotodetector de amplio rango y alta sensibilidad
8. Estabilidad de línea base: ≤0,003 A/30 min (dinámico), ≤0,002 A/30 min (estático)
9. Precalentamiento automático de la siguiente lámpara de elemento, puede encender 2 lámparas simultáneamente
10. Análisis por llama
Concentración característica: Cu < 0,02 μg/mL; Límite de detección: Cu < 0,003 μg/mL; RSD: ≤0,45%.
11. Búsqueda automática de picos: puede realizar automáticamente el cero, escaneo, ajuste de posición de lámpara, ajuste de posición de espejo y equilibrio de energía según las condiciones como la longitud de onda del elemento seleccionado en el método.
