es.wedoany.com Noticia: Corech de EE. UU. ha presentado recientemente el generador de señales de RF de sobremesa CSG9K40GA, con una frecuencia de operación que cubre de 9 kHz a 40 GHz, adecuado para pruebas de RF, mediciones de microondas e integración en sistemas automatizados. El equipo admite modos de onda continua (CW), modulación por pulsos y barrido en frecuencia, con una resolución de frecuencia de 0,001 Hz y una potencia máxima de salida de hasta +20 dBm según la banda de frecuencia.
Gracias a su amplia cobertura de banda, bajo ruido de fase y bajas emisiones espurias, el CSG9K40GA puede proporcionar condiciones de prueba estables y repetibles en todo su rango de frecuencia operativa. Su ruido de fase a 10 GHz de portadora y 10 kHz de offset es de -110 dBc/Hz, siendo compatible con fuentes de referencia de 10 MHz internas y externas, y ofreciendo salidas de referencia de 10 MHz y 100 MHz.
Para necesidades de medición de pulsos, el instrumento incorpora funcionalidad de modulación por pulsos, pudiendo seleccionar una fuente de pulsos interna o externa, con un ancho de pulso mínimo de 100 ns y un periodo de pulso mínimo de 110 ns, adecuado para pruebas de RF en dominio temporal y de puerta. En modo de barrido, admite barrido por pasos y ofrece control de tiempo de permanencia y opciones de disparo externo.
El CSG9K40GA está equipado con interfaces USB y Ethernet, lo que facilita la operación local y el control remoto, y también es adecuado para su implementación en sistemas de prueba automatizados, donde su agilidad de frecuencia, alta repetibilidad y tamaño compacto son consideraciones clave de diseño.
Esta fuente de señal se posiciona dentro de la cartera de productos de RF de Corech, orientada a aplicaciones de prueba en laboratorio, línea de producción y subsistemas, ofreciendo excitación de microondas de banda ancha y capacidades de modulación prácticas. Los objetivos de diseño abarcan cobertura de banda ancha, capacidad de pulsos, función de barrido por pasos y un formato de sobremesa compacto, adecuado para escenarios de trabajo como desarrollo de radares, pruebas de comunicación, verificación de semiconductores, evaluación de receptores y mediciones de RF de propósito general.
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