es.wedoany.com Noticia: Sony Semiconductor Solutions Corporation ha anunciado el próximo lanzamiento, producción en masa y envío del sensor de imagen CMOS de rayos X de tipo integración de carga con conversión directa IMX711.
Este sensor puede detectar directamente rayos X y emitir una señal proporcional a la energía, siendo adecuado para equipos de inspección y medición. Gracias a la tecnología de circuitos patentada de Sony, el IMX711 logra la velocidad de cuadro máxima más rápida de la industria entre los sensores CMOS de rayos X de tipo integración de carga: 26 100 fps (basado en el método de especificación de píxeles efectivos del sensor de imagen), y garantiza una medición precisa al suprimir la saturación de carga. Su ruido significativamente reducido mejora la precisión de detección de señales en condiciones de bajo flujo y ayuda a identificar diferencias en la energía de los fotones. Este nuevo producto puede lograr simultáneamente, en un solo sensor, una medición de alta precisión de la energía de rayos X integrada en un amplio rango dinámico, así como la obtención de información energética a nivel de fotón, algo difícil de conseguir con sensores tradicionales, lo que impulsará el avance de las tecnologías de inspección y medición por rayos X, desde la inspección de dispositivos de vanguardia hasta la medición científica.
El producto mejora las características de saturación en comparación con los sensores tradicionales al reducir la cantidad de carga acumulada por cuadro. Al mismo tiempo, el ruido aleatorio se reduce a 34 e-rms (calculado en base al valor promedio de píxeles en el área efectiva del sensor, con un valor garantizado de función de 60 e-rms cuando la temperatura ambiente es inferior o igual a 20 °C), lo que evita que las señales débiles de rayos X sean enmascaradas por el ruido. Esto mejora la precisión de medición en condiciones de bajo flujo, permitiendo la detección a nivel de fotón. Estas características permiten que el sensor mida con precisión la energía de rayos X integrada en todos los píxeles, desde condiciones de bajo flujo hasta alto flujo, lo que respalda la inspección y medición con diferencias significativas de brillo en un solo sensor, ayudando a aumentar el rendimiento del dispositivo y ampliar el rango dinámico.
El IMX711 utiliza un método de integración de carga que permite obtener información de energía de fotones sin necesidad de preestablecer un umbral. El ruido y las variaciones de señal durante el proceso de lectura se suprimen, logrando una alta resolución energética que permite identificar claramente las diferencias en la energía de los fotones. Esta característica ayuda a simplificar y mejorar la precisión de inspecciones y mediciones avanzadas, como la detección de diferencias de composición a nivel elemental, así como el análisis estructural y de materiales para evaluar cuantitativamente cambios de estado sutiles, aplicaciones que antes requerían múltiples mediciones. Además, el sensor admite el posprocesamiento en diversas condiciones, como la recopilación de datos de medición de todos los píxeles, la combinación con información espacial y la extracción de datos de energía específicos, lo que respalda inspecciones y mediciones multifuncionales.
El IMX711 ha sido desarrollado en colaboración entre Sony Semiconductor Solutions Corporation y RIKEN. Basándose en la estructura de píxeles inventada por el Dr. Takaki Hatsui, ambas partes han llevado a cabo el desarrollo de tecnologías de aplicación práctica, incluyendo la mejora de la sensibilidad, la alta resistencia a la irradiación de rayos X y la alta resistencia al voltaje. Sony, por su parte, ha desarrollado tecnologías de circuitos, procesos de fabricación y técnicas de empaquetado para lograr la producción en masa.
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