es.wedoany.com Noticia: Anritsu exhibirá sus últimos avances en el campo de las pruebas y mediciones en IMS 2026, la conferencia mundial de primer nivel sobre radiofrecuencia y microondas. En el stand 17054, la compañía ofrecerá demostraciones en vivo y sesiones informativas técnicas, centrándose en la creciente complejidad de los sistemas de banda ancha y alta frecuencia. En el seminario MicroApps de Anritsu, la aplicación de la inteligencia artificial en las pruebas y mediciones será un tema central.

Los instrumentos de prueba y medición expuestos incluyen analizadores de redes, analizadores de espectro, generadores de señales, osciloscopios, medidores de potencia y equipos de prueba automatizados. En el stand, los visitantes podrán presenciar demostraciones en vivo orientadas a los desafíos de las pruebas de próxima generación, interactuar directamente con ingenieros y expertos técnicos, conocer soluciones diseñadas para aplicaciones de alta velocidad y alta frecuencia, y obtener un adelanto de las próximas innovaciones. Los ingenieros de Anritsu estarán en el stand para conversar con los visitantes sobre métodos prácticos para pruebas de sistemas, precisión de medición y optimización del rendimiento.

Además, Anritsu ofrecerá charlas programadas diariamente a las 10:00 a. m. y a las 2:00 p. m. en el stand, brindando información rápida sobre tecnologías emergentes y escenarios de aplicación. Asimismo, un seminario MicroApps titulado "Inteligencia artificial impulsa los instrumentos de prueba y medición de próxima generación" se llevará a cabo el 11 de junio de 11:44 a. m. a 11:59 a. m. en el Teatro MicroApps del pabellón de IMS, con el número de sesión THMA8.

Este seminario se centrará en el papel de la inteligencia artificial en las pruebas y mediciones modernas, mostrando cómo la IA ayuda a los ingenieros a gestionar sistemas cada vez más complejos. La sesión explicará cómo la IA mejora la velocidad de medición, respalda métodos de prueba más escalables y proporciona información más profunda a partir de conjuntos de datos grandes y complejos. A medida que la complejidad de los sistemas de RF e inalámbricos sigue aumentando, los métodos de prueba más eficientes e inteligentes se están volviendo indispensables.

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