es.wedoany.com Noticia: VIEW Micro Metrology está llevando a cabo una serie de estudios de medición internos y orientados al cliente en sus laboratorios de sistemas en Estados Unidos y Asia, con los equipos de ingeniería de aplicaciones en fase de investigación.
El Laboratorio de Evaluación de Sistemas de VIEW Micro Metrology, ubicado en Rochester, Nueva York, está equipado con una gama completa de herramientas de medición dimensional de VIEW. Esta instalación respalda tanto el desarrollo interno como las aplicaciones reales de los clientes, proporcionando validación técnica y optimización de procesos para el encapsulado avanzado de semiconductores y otros entornos de fabricación.
Un estudio clave se centra en el rendimiento de medición de chips de matriz de rejilla de bolas (BGA) en obleas de 200 mm. Cada oblea contiene aproximadamente 1300 chips, y cada chip tiene 110 bolas de soldadura. El objetivo de este estudio es evaluar la eficiencia de medición y la calidad de los datos en escenarios de inspección de alto volumen, con énfasis en: comparar la diferencia de tiempo de ciclo entre las recetas estroboscópicas de "medir y mover" (MAM) y "captura de imágenes continua" (CiC™) para el tamaño de bolas individuales; detectar defectos de posición de las bolas en la oblea; realizar un análisis comparativo de la medición de la altura Z de las bolas utilizando láser a través de la lente (TTL) e imágenes 3D de enfoque múltiple de área (AMF™); y evaluar la repetibilidad en 25 obleas dentro del mismo lote. Los resultados del estudio se publicarán a finales del verano.
Además de los estudios a nivel de oblea, el laboratorio también participa en un proyecto de placa de distribución de gas, un componente utilizado en el proceso de deposición de obleas, similar a una "ducha" de semiconductores. También se está estudiando un componente similar para el sector aeroespacial. Los diámetros de los orificios pasantes en la placa de distribución de gas suelen ser superiores a 250 µm, dentro de la capacidad del sistema de medición de VIEW, pero el desafío de la inspección radica en los requisitos de uniformidad de las características, precisión de la posición real y el espaciado, topología de la superficie y precisión de la posición general. También es necesaria la detección de defectos, incluida la identificación de orificios obstruidos o parcialmente obstruidos, microfisuras, hoyos, acumulación de residuos y contaminación superficial. El rendimiento es un factor clave en este tipo de aplicaciones, ya que implica si la herramienta de inspección puede alcanzar la velocidad de medición necesaria para la producción en línea y si el fabricante puede lograr una inspección del 100% sin sacrificar la calidad.
En Asia, el representante autorizado de VIEW, V Eye Precision, continúa expandiendo el desarrollo de aplicaciones en los mercados de BGA y transceptores ópticos en Tailandia, apoyando a clientes en Tailandia, Singapur, Filipinas e Indonesia. El trabajo relacionado con BGA se centra principalmente en la medición de la altura de las bolas y la coplanaridad, parámetros clave para garantizar conexiones eléctricas fiables y el rendimiento del ensamblaje posterior. Al mismo tiempo, V Eye también está avanzando en aplicaciones de metrología para la fabricación de transceptores ópticos. Los dispositivos transceptores ópticos integran estructuras fotónicas submicrométricas, interfaces de fibra óptica y encapsulados de precisión, con tolerancias de alineación extremadamente exigentes, donde incluso un desplazamiento de ±1 µm puede afectar significativamente la eficiencia de acoplamiento óptico.
Los estudios mencionados de VIEW tienen como objetivo ayudar a los clientes a impulsar un mayor rendimiento, mejorar la tasa de éxito y lograr una inspección fiable y escalable en entornos de encapsulado avanzado. Al permitir mediciones 3D precisas y trazables, la metrología de VIEW transforma la inspección de una compuerta de calidad pasiva a una herramienta de ingeniería activa, permitiendo a los clientes detectar desviaciones sutiles del proceso y reducir el retrabajo.
VIEW Micro Metrology es una empresa que ofrece soluciones integradas de metrología de alto rendimiento y alta precisión, diseñadas para su uso en o cerca de la línea de producción, principalmente para los sectores de semiconductores, electrónica y médico. Sus soluciones utilizan sistemas avanzados de metrología óptica sin contacto y software versátil para lograr aplicaciones precisas y de alto rendimiento. Todas las soluciones son llave en mano y cuentan con soporte de diseño colaborativo e integración de producción.
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